干式空心電抗器的損壞原因首主有部分溫升過高、匝間絕緣擊穿等。這些原因終究引起匝間短路形成閉合回路,在電磁感應(yīng)作用下產(chǎn)生很大的環(huán)流,使鋁線溫度敏捷升高并熔化(形成較大的熔洞或部分導(dǎo)線熔化)。若故障點(diǎn)在包封中,則會(huì)敏捷產(chǎn)生火焰并向氣道兩側(cè)噴出,致使缺點(diǎn)擴(kuò)大使電抗器燒損。
材料質(zhì)量及工藝控制原因
電抗器設(shè)計(jì)時(shí),盡或許使導(dǎo)線與絕緣材料膨脹系數(shù)相近,防止產(chǎn)生絕緣開裂。一般選用鋁線而不選用銅線,是因?yàn)殂~線膨脹系數(shù)與絕緣材料的相差較大,易開裂??招碾娍蛊鬟x用鋁線進(jìn)行繞制,鋁線或許存在起皮、夾渣、毛刺等缺點(diǎn),或在繞制過程中引起鋁線損傷;這些有或許引起運(yùn)轉(zhuǎn)中導(dǎo)線斷線、放電損傷匝間絕緣。
目前空心電抗繞制基本選用濕法繞制,即電磁線及玻璃纖維等絕緣填充材料經(jīng)過未凝膠固化的環(huán)氧樹脂滋潤后一起繞制,完成后置入高溫烘爐進(jìn)行固化。這種方法對環(huán)境的溫度、濕度要求較高,繞制中操控不嚴(yán)容易吸潮及帶入雜質(zhì)。
若鋁線焊接質(zhì)量不良,可引起包封部分溫度過高或斷線等。
因匝間絕緣強(qiáng)度足以接受2倍的過電壓,因而電抗器投切過程中產(chǎn)生的過電壓不是故障的原因。
運(yùn)轉(zhuǎn)中會(huì)存在電抗器在高于額外運(yùn)轉(zhuǎn)電壓下運(yùn)轉(zhuǎn)的情況,此時(shí)若規(guī)劃時(shí)導(dǎo)線的電流密度選的過大,將會(huì)使電抗器各包封溫升升高,引起整體發(fā)熱;若存在反常熱門,將或許導(dǎo)致匝間絕緣損壞直至電抗器損壞。因而,制造廠應(yīng)合理挑選規(guī)劃裕度,防止在體系電壓較高下包封出現(xiàn)反常溫升而損傷絕緣情況產(chǎn)生。
斷線的原因
斷線的部位首要有包封外部引出線斷線與包封內(nèi)部斷線。包封外部斷線的原因首要有運(yùn)送、安裝過程中導(dǎo)線被碰損或?qū)Ь€焊接質(zhì)量不良引起。包封內(nèi)部斷線的原因或許為導(dǎo)線夾渣、起皮,在運(yùn)轉(zhuǎn)中部分過熱而熔斷;或?qū)Ь€匝間絕緣不良,在運(yùn)轉(zhuǎn)中匝間放電而使導(dǎo)線受損直至斷線。
因電抗器為多根導(dǎo)線并繞結(jié)構(gòu),斷線后電抗器各包封導(dǎo)線中的電流將重新分配。依據(jù)制造廠的核算結(jié)果,斷線1根導(dǎo)線后,剩下導(dǎo)線中某根導(dǎo)線電流值將變?yōu)檎r(shí)的1.2倍,因發(fā)熱量與電流的平方成正比,則發(fā)熱量變?yōu)樵瓉淼?.44倍;可見,斷線后個(gè)別包封將出現(xiàn)溫升反常升高。包封溫升反常升高后,將使匝間絕緣敏捷劣化,引發(fā)電抗損壞。
結(jié)論
1)從制造廠角度考慮,電抗器制造過程中應(yīng)加強(qiáng)工藝操控,防止導(dǎo)線夾渣、毛刺、焊接質(zhì)量不良等產(chǎn)生,合理規(guī)劃電抗器溫升水平,從根本上根絕電抗器損壞產(chǎn)生。
2)在運(yùn)送及安裝過程中,應(yīng)特別關(guān)注各包封引出線及調(diào)匝環(huán)(若有),防止誤碰引起導(dǎo)線或絕緣損傷。
3)因?yàn)楦墒娇招碾娍蛊鳛槊饩S護(hù)設(shè)備,預(yù)防性實(shí)驗(yàn)規(guī)程中對干式電抗器的實(shí)驗(yàn)項(xiàng)目為:阻抗測量(必要時(shí))、紅外測溫(1年或必要時(shí))。目前,已要求定期展開干抗紅外測溫,但僅能測驗(yàn)到干抗外部包封溫度,很難發(fā)現(xiàn)干抗內(nèi)部包封的溫度反常情況。
4)目前,已要求定期展開直流電阻測驗(yàn),判別依據(jù)首要依據(jù)所測電阻值與出廠值的誤差核算并聯(lián)導(dǎo)線中是否存在斷線及斷線的根數(shù)。結(jié)合制造廠的核算, 一般導(dǎo)線斷線1根直流電阻誤差接近1%;并結(jié)合縱向、橫向比較進(jìn)行判別,以進(jìn)步判別的準(zhǔn)確性。實(shí)踐證明,可有效發(fā)現(xiàn)斷線情況。
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